<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><rss version="2.0"><channel><title>نوشته های Nano Tahlil</title><link>https://virgool.ir/feed/@nanotahlil</link><description></description><language>fa</language><pubDate>2026-11-11 13:45:10</pubDate><image><url>https://files.virgool.ir/upload/users/676751/avatar/avatar.png</url><title>Nano Tahlil</title><link>https://virgool.ir/@nanotahlil</link></image><item><title>آنالیز زاویه تماس یا contact angle</title><link>https://virgool.ir/@nanotahlil/آنالیز-زاویه-تماس-یا-contact-angle-lyw7xmyzyuta</link><description>به زاویه شکل گرفته بین خط هم رسی مایع-جامد و مایع-گاز، که از درون مایع اندازه گیری می شود، زاویه تماس گفته می شود.کاربرد اصلی اندازه گیری زاویه تماس تعیین میزان آب دوستی، آب گریزی، خود تمیز شوندگی، انرژی سطح و سایر خواص سطح است. به این صورت که سطحی که دارای زاویه تماس کوچک تر از 90 درجه باشد را آب دوست و سطحی که دارای زاویه تماس بزرگ تر از 90 درجه باشد را آب گریز می نامند. هنگامی که زاویه تماس سطح کوچک تر از 10 درجه باشد سطح را فوق آب دوست و در صورتی که این زاویه بالای 150 درجه و زاویه پسماند آن کوچکتر از 10 درجه باشد آن را فوق آب گریز می نامند.دستگا اندازه گیری زاویه تماس</description><category>Nano Tahlil</category><author>Nano Tahlil</author><pubDate>Sat, 08 Jan 2022 14:51:01 +0330</pubDate></item><item><title>مقاله طیف سنج بازتابش انتشاری (DRS)</title><link>https://virgool.ir/@nanotahlil/مقاله-طیف-سنج-بازتابش-انتشاری-drs-pxzxgjnnoqad</link><description>طیف سنج بازتابش انتشاری (DRS)طیف سنجی DRS (Diffuse Reflectance Spectroscopy) دستگاهی است که با استفاده از آن میزان نور بازتابی در ناحیه UV-VIS، مادون قرمز نزدیک و مادون قرمز میانی، از یک ماده به دست می‌آید. از این دستگاه برای اندازه‌گیری نور بازتابی از ذرات و پودرهای ریز ، مواد جامد و هم‌چنین میزان بازتاب از سطوح ناهموار استفاده می‌شود.نحوه عملکرد طیف سنج بازتابش انتشاری (DRS)بازتاب  انتشاری به پرتاب متمرکز پرتو طیف‌سنج به درون نمونه که در آن منعکس شده و پراکنده می‌شود متکی است و از طریق مواد نمونه منتقل می شود. نور منعکس و پراکنده شده توسط دستگاه جمع آوری شده و به اپتیک آشکارساز هدایت می شود.  تنها بخشی از پرتو که در یک نمونه پراکنده شده و به سطح باز می گردد ، بازتاب انتشاری در نظر گرفته می شود.آماده سازی نمونه برای انجام آنالیز DRSاز نمونه های پودری به همراه ماده مرجع (پتاسیم برمید، KBr) به نسبت 1:5 قرصی به ضخامت کمتر از  1.5 میلی متر ساخته شده و تحت تابش نور قرار می گیرد. (برای سایر نمونه ها قرص سازی انجام نمی شود.)دلیل رقیق سازی نمونه با ماده مرجعرقیق سازی ، نفوذ عمیق تر پرتو فرودی به نمونه را تضمین می کند که سهم بازتابش انتشاری در طیف را افزایش می دهد و بازتاب آئینه ای را به حداقل می رساند.  مولفه بازتاب آئینه ای در طیف های بازتابش انتشاری ، باعث تغییر در شکل نوارها و شدت نسبی آنها می شود. رقیق شدن نمونه با ماده مرجع این اثرات را به حداقل می رساند.معادله  KUBELKA-MUNKبا توجه به روش های آماده سازی نمونه، باز هم طیف بازتابش انتشاری خام متفاوت از معادل عبوری آن به نظر می رسد. تبدیل Kubelka-Munk  را می توان برای یک طیف بازتابش انتشاری برای جبران این تفاوت ها اعمال کرد.که در آن: بازتاب مطلق لایه نمونه برداری شده R ضریب جذب مولی K ضریب پراکندگی Sطیف سنج بازتابش انتشاری همچنین می تواند برای تجزیه و تحلیل نمونه های مایع استفاده شود.در این کاربرد مقدار کمی از نمونه مستقیما روی پودر مرجع (پتاسیم برمید، KBr) توزیع شده و آنالیز می شود.منابع و مراجع6125 Cottonwood Drive Madison, WI 53719 • (608) 274-2721 • (608) 274-0103 (FAX) •(www.piketech.com • sales@piketech.com (E-MAIL2011 ©PIKE Technologies. All rights reserved. All trademarks are the property of PIKE Technologies.</description><category>Nano Tahlil</category><author>Nano Tahlil</author><pubDate>Mon, 06 Dec 2021 11:50:05 +0330</pubDate></item><item><title>آنالیز CHNS</title><link>https://virgool.ir/@nanotahlil/آنالیز-chns-jeb3nzxk9qze</link><description>آنالیز CHNS ابزاری علمی است که می توان به کمک آن غلظت های اساسی موجود در فرآورده های نفتی ، سوخت های زیستی و غیره را تعیین کرد و معمولا برای اندازه گیری کربن، هیدروژن، ازت و گوگرد استفاده می شود.در تست CHNS با استفاده از احتراق نمونه به ترکیبات ساده اکسید می شود و  سپس عناصر شناسایی می شوند. در واقع این روش درصد غلظت های اساسی را بر  اساس اصل “روش Dumas” محاسبه می کند. با استفاده از احتراق نمونه باعث  اکسیداسیون فوری به ترکیبات ساده می شود. سپس این ترکیبات با تشخیص هدایت  حرارتی یا طیف سنجی مادون قرمز شناسایی و جداسازی تداخل توسط معرفهای  شیمیایی انجام می شود.این تست مخرب می باشد. معمولا مقدار ماده مورد نیاز فقط چند میلی گرم  است، اما ممکن است بسته به سیستم متفاوت باشد. برای برخی موارد، جرم بزرگتر  به دلیل ناهمگنی نمونه ترجیح داده می شود.CHNS</description><category>Nano Tahlil</category><author>Nano Tahlil</author><pubDate>Tue, 20 Jul 2021 14:34:45 +0430</pubDate></item><item><title>آنالیز Gxrd</title><link>https://virgool.ir/@nanotahlil/آنالیز-gxrd-ahaxsmve3g6g</link><description>Grazing Incidence X-ray Diffractionبرای بدست آوردن اطلاعات دقیق در رابطه با پوشش های لایه نازک از تست Grazing استفاده می شود .آنالیز XRD نرمال برای لایه های nm ۱۰۰۰-۱ ، پیک هایی با شدت بالا از زیر لایه و پیک  های ضعیفی از لایه در اختیار ما قرار می دهد. برای رفع این مشکل از تست  Grazing استفاده می گردد . در این روش اشعه ایکس با زاویه ای زیر ۱ درجه به  نمونه برخورد می کند. این زاویه در طول آنالیز ثابت خواهد ماند و تنها  دتکتور دستگاه عملیات اسکن را انجام میدهد.با توجه به زاویه کم برخورد اشعه  به نمونه، عمق نفوذ اشعه در نمونه کمتر خواهد شد و اطلاعات مفیدی از لایه  مورد نظر را در اختیار قرار خواهد داد.G-XRD</description><category>Nano Tahlil</category><author>Nano Tahlil</author><pubDate>Wed, 02 Jun 2021 12:38:19 +0430</pubDate></item><item><title>آنالیز DSC</title><link>https://virgool.ir/@nanotahlil/آنالیز-dsc-mga8trx1qize</link><description>در روش آنالیز گرماسنجی افتراقی (Differential Scanning Calorimetry) یا آنالیز DSC،  نمونه مجهول و شاهد در دمای یکسان نگهداری شده و تفاوت انرژی لازم برای  ثابت نگهداشتن دما، بر حسب تغییر دما رسم می شود. به عبارت دیگر، نمونه  مجهول و شاهد مقدار گوناگونی انرژی می گیرند تا دمای آن ها همیشه یکسان  بماند.با استفاده از این دستگاه و از طریق گرمايش يا سرمايش طبق یک برنامة  دمایی معین و با سرعت و اتمسفر کنترل شده مواد مختلف نسبت به یک نمونه  مرجع، اندازه گيري دمای تغییرات فیزیکی و تغييرات آنتالپي و انتقال هاي  درجه اول )ذوب، انتقال شيشه اي و يا كريستال شدن و … كه بصورت جذب يا آزاد  كردن گرما قابل مشاهده است) و اندازه‏گیری کمّی تغییرات انرژی مواد مختلف  امکانپذیر می باشد.زمینه های کاربری دستگاه :آنتالپی واکنش، انحلال، جذب و ظرفیت حرارتی مواد شیمیایی مختلفدمای بلورینگی، ذوب، تبخیر، تجزیه و انتقال شیشه ایانرژی فعال سازی، درجه پخت و پلیمریزاسیون واکنشهای مختلفDSC</description><category>Nano Tahlil</category><author>Nano Tahlil</author><pubDate>Tue, 01 Jun 2021 12:16:30 +0430</pubDate></item><item><title>آنالیز NMR</title><link>https://virgool.ir/@nanotahlil/آنالیز-nmr-a0iidriwaicy</link><description>آنالیز NMR یا رزونانس مغناطیس هسته ای (Nuclear magnetic resonance spectroscopy) یک تکنیک طیف سنجی برای مشاهده میدان های مغناطیسی موضعی اطراف هسته های اتمی است.این آنالیز روش قطعی برای شناسایی ترکیبات آلی تک مولکولی است. بیوشیمیست ها از NMR برای شناسایی پروتئین ها و سایر مولکول های پیچیده استفاده می کنند.اساسا در طیف سنجی NMR فرکانس انرژی جذب شده به وسیله هسته های مغناطیسی، واقع در یک میدان مغناطیسی خارجی اندازه گیری می شود.نمونه ها در این نوع طیف سنیج باید محلول باشند. برای HNMR باید حلال های خاصی استفاده شود که دارای پروتون نیستند.دستگاه NMR</description><category>Nano Tahlil</category><author>Nano Tahlil</author><pubDate>Tue, 18 May 2021 14:28:20 +0430</pubDate></item><item><title>آنالیز AFM</title><link>https://virgool.ir/@nanotahlil/آنالیز-afm-fwlhjcwtp4dc</link><description>ميکروسکوپ نيروي اتمي (AFM)ميکروسکوپ نيروي اتمي (آنالیز AFM)براي بررسي خواص و ساختار سطحي مواد در ابعاد نانومتري به كار مي‌رود. انعطاف‌پذيري، سيگنالهاي بالقوة متعدد، و امكان عملكرد دستگاه در مدهاي مختلف محققين را در بررسي سطوح گوناگون، تحت شرايط محيطي متفاوت توانمند ساخته است.بر خلاف اكثر روشهاي بررسي خواص سطوح، با میکروسکوپ نیروی اتمی محدوديت اساسي بر روي نوع سطح و محيط آن وجود ندارد. با اين نانوسکوپ امكان بررسي سطوح رسانا يا عايق، نرم يا سخت، منسجم يا پودري، بيولوژيك و آلي يا غيرآلي وجود دارد.خواص قابل اندازه‌گيري با نانوسکوپ شامل :1- مورفولوژي هندسي2- توزيع چسبندگي3- اصطكاك4- ناخالصي سطحي5- جنس نقاط مختلف سطح6- كشساني7- خواص مغناطيسي8- بزرگي پيوندهاي شيميايي9- توزيع بارهاي الكتريكي سطحی10- قطبيت الكتريكي نقاط مختلفاز قابلیت های میکروسکوپ نیروی اتمی براي بررسي ويژگي‌هايي همچون : خوردگي، تميزي، يكنواختي، زبري، چسبندگي، اصطكاك و اندازه استفاده مي شود.پارامترهای قابل اندازه گیری با آنالیز AFM:1- بررسی صافی سطوح2- بررسی خواص مغناطیسی مواد3- کنترل کیفی سطوح پوشش داده شدهدستگاه AFM</description><category>Nano Tahlil</category><author>Nano Tahlil</author><pubDate>Mon, 17 May 2021 13:26:39 +0430</pubDate></item><item><title>آنالیز XRD</title><link>https://virgool.ir/@nanotahlil/آنالیز-xrd-vekk8pbsp0dn</link><description>آنالیزXRD در صورتی الکترون های وابسته به اتم های یک بلور توسط پرتو ایکس به نوسانات متناوب تحریک شوند، تعداد زیادی منابع نوری با فرکانس یکسان با پرتو فرودی شده، ایجاد میکند. موج های پراکنده شده با یکدیگر تداخل نموده و در صورتی که فاز بین دو پرتو متوالی مضرب درستی از π2 یا اختلاف راهشان مضرب درستی از طول موج باشد، بیشینه ی شدت حاصل می شود.بدین ترتیب نقاط تاریک و روشن به دست می آید. این نقاط روشن دارای شدت های مختلف می باشد که مقدار آن به عامل پراکندگی اتم ها یعنی به تعداد و توزیع الکترونی در اتم ها و به عامل ساختار که مربوط به پیکربندی یاخته اولیه است بستگی دارد.شکل زیر دستگاه پراش پرتو ایکس را نشان می دهد. نمونه ها در محل مورد نظر قرار گرفته و پرتویی با خط تابش CuKα با طول موج 54/1 آنگستروم به سطح نمونه فرود می آید. از آنجا که نگهدارنده نمونه قابل چرخش است تابش فرودی می تواند با زوایای مختلف سطح را جاروب کند.به کمک الگوی پراش بدست آمده می توان پارامترهای مهمی از نانوساختارها نظیر نوع ساختار بلوری (با توجه به موقعیت قله ها و مقایسه آن با کارتهای استاندارد JCPDS) و راستای رشد ترجیحی را یافت.همچنین به کمک این داده ها می توان اندازه بلورکها، چگالی دررفتگی ها، کرنش ها، فاصله بین صفحات بلوری و ثابت شبکه ای ماده مورد نظر را محاسبه کرد.دستگاه XRD</description><category>Nano Tahlil</category><author>Nano Tahlil</author><pubDate>Sat, 15 May 2021 14:30:49 +0430</pubDate></item><item><title>دستگاه اندازه گیری مقاومت سطحی FOUR POINT PROBE</title><link>https://virgool.ir/@nanotahlil/دستگاه-اندازه-گیری-مقاومت-سطحی-four-point-probe-qu6ccx5etiwd</link><description>دستگاه اندازه گیری مقاومت سطحی (FOUR POINT PROBE)این دستگاه با استفاده از تکنیک چهار پروب برای اندازه‌گیری مقاومت سطحی نیمه‌هادی‌ها مورد استفاده قرار می‌گیرد.• اعمال ولتاژ از 0 تا 40ولت• دامنه جریان از 10 نانو آمپر تا 999/99 میلی آمپر• دامنه اندازه گیری از 110-3(Ω/□) تا (Ω/□) 5108با دقت 1%four point probeشرکت سازنده: Jandel انگلستان</description><category>Nano Tahlil</category><author>Nano Tahlil</author><pubDate>Sat, 15 May 2021 14:10:58 +0430</pubDate></item><item><title>SOLAR CELL TESTING AND CHARACTERIZATION</title><link>https://virgool.ir/@nanotahlil/solar-cell-testing-and-characterization-g4mnyevk1mdg</link><description>این سیستم شبیه ساز خورشیدی(Solar Cell Testing and Characterization) با استفاده از منابع نور متنوع شامل لامپ های زنونی و 6 دسته LED با طیف طول موجی مورد نیاز بر اساس استاندارد IEC-60904-9 که قابلیت تغییر شدت تابش این منابع نوری برپایه 256 حالت مختلف طراحی و ساخته شده است.این قابلیت به کاربران امکان می دهد، تا طیف های متنوع مورد نیاز خود را علاوه بر طیف استاندارد MM1.5 ایجاد نماید. این مساله بویژه در مطالعه سلول های خورشیدی چند لایه از اهمیت خاصی برخوردار است.با استفاده از این سیستم می توان مطالعات فتوولتاییک در محیط آزمایشگاهی و با دقت بالا انجام داد. همچنین می توان منحنی I-V سلول های خورشیدی، ولتاژ مدار باز، جریان اتصال کوتاه و راندمان سلول خورشیدی را تعیین نمود.یکی از ویژگی های بخش مشخصه یاب پارامترهای سلول خورشیدی امکان تعیین جریانهای میکروآمپری و ولتاژهای میکروولتی است.این ویژگی، اندازه گیری پارامترهای سلولهای خورشیدی کوچک آزمایشگاهی را میسر می سازد. این موضوع امکان تست سلولهای نانوساختار با راندمان های کوچک را نیز ممکن می سازد. در حالیکه بسیاری از محصولات خارجی مشابه مانند سیستم های تایوانی PROVA امکان تعیین پارامترهای سلولهای خورشیدی بزرگ یا پنلهای خورشیدی را فقط دارند.دستگاه شبیه ساز خورشیدی</description><category>Nano Tahlil</category><author>Nano Tahlil</author><pubDate>Sat, 15 May 2021 13:51:04 +0430</pubDate></item><item><title>طیف سنجی امپدانس الکتروشیمیایی</title><link>https://virgool.ir/@nanotahlil/طیف-سنجی-امپدانس-الکتروشیمیایی-wsjbnnohjyix</link><description>طیف سنجی امپدانس الکتروشیمیایی (Electrochemical impedance spectroscopy )، انجام آزمونهای پلاریزاسیون و امپدانس بر روی انواع نمونه ها به منظور بررسی و مقایسه مقاومت در برابر خوردگی.این دستگاه یکی از پرکاربرترین وسایل در علم الکتروشیمی می‌باشد. به کمک آن می توان انواع آزمون های الکتروشیمیایی و خوردگی را انجام داد. همچنین به منظور بررسی خصوصیات الکتریکی مواد قابل کاربرد است.این دستگاه به صورت پتانسیواستات و گالوانواستات قابلیت انجام آزمون ها را دارد. در مطالعات مربوط به مقاومت خوردگی مواد، بررسی خصوصیات الکتریکی مواد، مطالعات پیلهای سوختی، باتری‌ها، سلولهای خورشیدی، خازن‌ها، مواد دی الکتریک استفاده می شود.دستگاه طیف سنجی امپدانس الکتروشیمیایی </description><category>Nano Tahlil</category><author>Nano Tahlil</author><pubDate>Sat, 15 May 2021 13:37:36 +0430</pubDate></item><item><title>آنالیز DLS یا تفرق نور پویا (DYNAMIC LIGHT SCATTERING)</title><link>https://virgool.ir/@nanotahlil/آنالیز-dls-یا-تفرق-نور-پویا-dynamic-light-scattering-rvhp9deh1gmr</link><description>آنالیز DLS یا تفرق نور پویا (Dynamic light scattering) روشی جهت تعیین اندازه ذرات و توزیع آنها در مایعات است. آنالیز های SEM و TEM اندازه ذرات را در حالت خشک بررسی می کنند. با این حال برای رنج گسترده ای از کاربردها مانند حوزه دارو و زیستی و یا هر کاربردی که در آن نیاز به پخش کردن ذرات در یک مایع است، باید رفتار ذرات در مایعات نیز بررسی شود که در نتیجه نیاز به انجام آنالیز DLS است.در بسیاری از تحقیقات از هر سه این آنالیزها جهت بررسی اندازه و رفتار ذرات استفاده می شود. آنالیز DLS برای بررسی پایداری ابعادی نانوذرات و شدت آگلومره شدن آنها، نیز بهترین روش است. به طور معمول روش DLS برای اندازه گیری توزیع اندازه ذرات بین یک نانومتر تا 10 میکرو متر استفاده می‌شود. از روش SLS برای اندازه‌گیری اندازه ذرات بزرگ‌تر یک میکرومتر استفاده می‌شود.آنالیز تعیین پتانسیل زتا (Zeta Potential) روشی برای تعیین میزان بار الکتریکی ذرات است. میزان بارذرات در کاربردهای گسترده ای از اهمیت بالایی برخوردار است. بار بالای ذرات چه منفی و چه مثبت منجر به پایداری ذرات در مایعات و عدم رسوب دادن آنها می شود. این امر در حوزه نانوذرات و جلوگیری از آگلومره شدن آنها بسیار مورد توجه قرار گرفته است.از سوی دیگر بار ذرات در چگونگی برهمکنش ذرات با سلول ها و میکروب ها و یا جذب یون ها در تصفیه آب موثر بوده و انجام آنالیز تعیین پتانسیل زتا تنها راه بررسی آن است.http://nanotahlil.ir/dls-zetapotential/</description><category>Nano Tahlil</category><author>Nano Tahlil</author><pubDate>Tue, 11 May 2021 13:27:09 +0430</pubDate></item><item><title>GAS SENSOR TEST</title><link>https://virgool.ir/@nanotahlil/gas-sensor-test-j3qmcvwugftz</link><description>این دستگاه به منظور تست نانو حسگرهای گازی تولید شده در آزمایشگاه ­های نانو طراحی و ساخته شده است. از قابلیت ­های این دستگاه می­توان به تست حسگرهای مقاومتی، امپدانسی و … اشاره کرد. همچنین با توجه به طراحی مناسب و عدم نشتی محفظه حسگری، این دستگاه قابلیت اندازه­ گیری مقادیر گاز تا مقادیر زیر ppm 10 را فراهم می­ کند.سیستم مشخصه ­یاب پارامترهای حسگرهای گازی سری Nano GST-300 سیستمی است که برای تعیین پارامترهای حسگری مانند حساسیت، زمان پاسخ­دهی و زمان بازیافت حسگرهای گازی برای حالت­ های استاتیکی و دینامیکی طراحی و ساخته شده است.این سیستم قادر است که فرآیند حسگری گاز را با ایجاد شرایط دمایی مناسب و یا تابش نور UV به حالت بهینه برساند. به عبارت دیگر در مواردی که امکان استفاده از هیتر الکتریکی برای گرم کردن حسگر وجود ندارد (مانند حسگری گازهای قابل انفجار)، می توان با استفاده از چشمه UV به تحریک الکترون­ های موجود در ساختار نواری ماده حسگری، کمک کرد.gas sensorhttp://nanotahlil.ir/gas-sensor-test/</description><category>Nano Tahlil</category><author>Nano Tahlil</author><pubDate>Tue, 11 May 2021 13:15:36 +0430</pubDate></item><item><title>طیف سنجی رامان (RAMAN SPECTROSCOPY)</title><link>https://virgool.ir/@nanotahlil/طیف-سنجی-رامان-raman-spectroscopy-aj9u56qupcmi</link><description>طیف سنجی رامان یا آنالیز رامان (Raman spectroscopy) یک تکنیک طیف سنجی مولکولی است (یعنی با شناسایی مولکول ها سر و کار دارد، نه اتمها) که کاربرد های متنوعی در زمینه های تحقیقاتی مختلف پیدا کرده است.هنگامی که یک تابش الکترومغناطیس از یک محیط شفاف عبور می کند، گونه های موجود قسمتی از باریکه را در تمامی جهات پراکنده (Scatter) می کنند . آنالیز رامان بر اساس تجزیه و تحلیل این تفاوت ها جهت تعیین ساختار مولکولی ترکیبات مختلف شکل گرفته است .میکروسکوپ Raman، یک دستگاه میکروسکوپی مبتنی بر لیزر است که برای این طیف سنجی استفاده می‌شود. این دستگاه بر اساس تکنولوژی شناسایی مواد توسط طیف سنجی Raman و میکروسکوپ نوری معمولی تولید می‌شود. در این روش با استفاده از روش نقشه برداری نقطه‌ای، می‌توان نقشه‌های رامان را ثبت کرد. این امر برای نشان دادن توزیع فضایی اجزای مختلف شیمیایی یا اطلاعات نهفته در نمونه استفاده می‌شود.میکروسکوپ Ramanhttp://nanotahlil.ir/raman-spectroscopy/</description><category>Nano Tahlil</category><author>Nano Tahlil</author><pubDate>Tue, 11 May 2021 12:43:28 +0430</pubDate></item><item><title>FTIR (FOURIER TRANSFORM INFRARED)</title><link>https://virgool.ir/@nanotahlil/ftir-fourier-transform-infrared-ywhalk9tr14a</link><description>آنالیز FTIR روشی برتر در اسپکتروسکوپی یا طیف سنجی مادون قرمز است. در روش طیف سنجی مادون قرمز، پرتو IR از نمونه عبور می کند. بخشی از آن توسط نمونه جذب و بخشی دیگر از داخل آن عبور می کند. در نتیجه طیف ها، جذب و عبور IR توسط مولکول های نمونه را نشان می دهند. مشابه با اثر انگشت، ساختار مولکولی مواد نیز کاملا منحصر بفرد می باشد. این شاخصه، طیف سنجی مادون قرمز را برای آنالیز انواع مختلف مواد مفید می سازد.اطلاعت بدست آمده از آنالیز FTIR:تشخیص مواد مجهولتعیین کیفیت یا یکنواختی نمونهتعیین مقدار اجزاء تشکیل دهنده یک مخلوطشناسایی مخلوط ترکیبات آلی و غیرآلی بشرطی که هردو ماده جامد یا مایع باشند.آنالیز لایه نازکآنالیز چسب ها، پوشش ها و مواد ارتقاء دهنده چسبندگی یا اتصال دهنده هاشناسایی پلیمرها و مخلوط های پلیمریآنالیز حلال ها، مواد تمیزکننده و شوینده های مجهولمزایای تست FTIR:سرعت : به دلیل اندازه گیری هم زمان تمام فرکانس ها اندازه گیرهای FT-IR در چند ثانیه انجام می شود.حساسیت: حساسیت FT-IR بالاست. آشکارسازهای مورد استفاده بسیار حساس بوده و عملکرد اپتیکی بالایی دارند که باعث می شود پارازیت های به وجود امده بسیار کاهش یابد.عملکرد مکانیکی ساده: آینه ی متحرک در تداخل سنج تنها قسمت متحرک دستگاه می باشد. بنابراین احتمال ازکارافتادگی مکانیکی دستگاه بسیار کم است.کالیبراسیون ذاتی: این وسیله از لیزر HeNe به عنوان استاندار کالیبراسیون داخلی استفاده می کند که هیچگاه نیاز به کالیبره کردن توسط استفاده کننده ندارد.FTI</description><category>Nano Tahlil</category><author>Nano Tahlil</author><pubDate>Tue, 11 May 2021 11:47:20 +0430</pubDate></item><item><title>آنالیز LCR متر</title><link>https://virgool.ir/@nanotahlil/آنالیز-lcr-متر-yib4cuw0gnfi</link><description>آنالیز LCR متر پارامتر های اندوکتانس سلف ،ظرفیت خازن و مقاومت الکتریکی را به عنوان اهداف اساسی خود اندازه می گیرد. به علاوه از دیگر اندازه گیری های دستگاه می توان به پارامتر هایی همچون ضریب توان ،ضریب اتلاف، سوسپتانس (بخش موهومی ادمیتانس)، کنداکتانس (هدایت الکتریکی) و ESR بخش حقیقی امپدانس اشاره کرد.LCR متر فرکانس بالا مدل HIOKI IM3536 دستگاه انالایزر امپدانس و LCR متر هیوکی به منظوره ارائه یک گسترده DC و فرکانس تست ۴هرتز تا ۸ مگا هرتز با دقت 05/0% ایده آل برای ارزیابی ویژگی های قطعات الکترونیکی مورد کاربرد تکنسین ها و اپراتورها می باشد.مشخصات فنی دستگاهفرکانس اندازه گیری ۴هرتز تا ۸ مگا هرتزاندازه گیری سرعت بالا 1میلی ثانیهاندازه گیری با دقت بالا از با دقت 05/±0%، rdgمحدوده دقت تضمین شده از ۱ مگا اهم، اندازه گیری امپدانس کم با تکرار پذیری بالاLCR Meterhttp://nanotahlil.ir/lcr-meter/</description><category>Nano Tahlil</category><author>Nano Tahlil</author><pubDate>Tue, 11 May 2021 11:31:50 +0430</pubDate></item><item><title>آناليز TEM</title><link>https://virgool.ir/@nanotahlil/آناليز-tem-ta2g7vsypyir</link><description>در میان میکروسکوپ‌های ساخته شده در جهان، میکروسکوپ الکترونی عبوری قدرتمندترین نوع میکروسکوپ به شمار می‌رود. این دستگاه قادر است اجسامی کمتر از یک نانومتر را نیز نمایش دهد. اساس عملکرد این میکروسکوپ که به اختصار به آن TEM گویند، مشابه میکروسکوپ های نوری است. با این تفاوت که بجای پرتوی نور در آن از پرتوی الکترون استفاده می شود. آنچه که می توان با کمک میکروسکوپ نوری مشاهده کرده بسیار محدود است، در حالی که با استفاده از الکترون ها به جای نور، این محدودیت از بین می‌رود. وضوح تصویر در آنالیز TEM هزار برابر بیشتر از یک میکروسکوپ نوری است.در واقع TEM نوعی پروژکتور نمایش اسلاید در مقیاس نانو است که در آن پرتویی از الکترون ها از تصویر عبور داده می شود. الکترون هایی که از جسم عبور می کنند به پرده فسفرسانس برخورد کرده و سبب ایجاد تصویر از جسم بر روی پرده می شوند. قسمت های تاریک تر بیانگر این امر هستند که الکترون های کمتری از این قسمت جسم عبور کرده اند (این بخش از نمونه چگالی بیشتری دارد) و نواحی روشن تر مکان هایی هستند که الکترون از آنها عبور کرده است (بخش های کم چگال تر).وضوح این میکروسکوپ ۲ نانومتر می باشد. از آن جهت ابزار ویژه در مشخص نمودن ساختار و مورفولوژی مواد محسوب می شوند که مطالعات ریزساختاری مواد با قدرت تفکیک بالا، و بزرگنمایی خیلی زیاد را امکان پذیر می سازد. علاوه بر این از این میکروسکوپ‌ جهت مطالعات ساختارهای بلور، تقارن، جهت گیری و نقائص بلوری می توان استفاده نمود. این موارد سبب شده است که آنالیز TEM امروزه به یک ابزار بسیار مهم در بسیاری از تحقیقات پیشرفته فیزیک، شیمی، بلورشناسی، علم مواد، پزشکی و زیست شناسی شناخته شود.http://nanotahlil.ir/tem/</description><category>Nano Tahlil</category><author>Nano Tahlil</author><pubDate>Mon, 10 May 2021 14:43:31 +0430</pubDate></item><item><title>آنالیز رئومتر</title><link>https://virgool.ir/@nanotahlil/آنالیز-رئومتر-oagui6ranjxa</link><description>آنالیز رئومتر، به منظور محاسبه­ ي خواص رئولوژيكي مواد مختلف (سيالات غيرنيوتوني) به ويژه پليمرها (پليمرهاي گرمانرم، مواد خميري، محلول­ هاي پليمري، رزين­ ها، چسب­ ها، بايوپليمرها و …. ) رئومترها مورد استفاده قرار مي­گيرند. رئومترها قادر به محاسبه پارامترهاي رئولوژيكي بسياري از جمله:رئومترها قادر به محاسبه پارامترهاي رئولوژيكي بسياري از جمله:ويسكوزيته برشيويسكوزيته در ناحيه صفر و محاسبه­ ي وزن مولكولي متوسط وزني پليمرهاويسكوزيته كامپلكسميزان تغييرات ويسكوزيته با شدت برشتعيين گرانروي ديناميك و استاتيك پليمرهامدول ذخيره، مدول اتلاف و فاكتور اتلافمطالعه پايداري ابعادي نمونه و تعيين محدوده ويسكوالاستيك خطي و غيرخطيمطالعه ريزساختار مواد پليمري (مطالعه شاخه جانبي، توزيع جرم مولكولي، تاثير سازگار كننده، مطالعه پخش پر كننده و …)و …..قابليت­ هاي نرم ­افزاري دستگاه رئومتر PHYSICA MCR 301 :انواع تست­ هاي چرخشي (تست چرخش با كنترل نرخ تنش يا كرنش (، n، ϕ، γ) ، تست چرخشي با كنترل تنش (τ، M)) به همراه رسم منحني مربوطهانواع تست­ هاي نوساني (آزمون­ هاي نوساني با كنترل كرنش (ϕ، γ) يا كنترل تنش (τ، M)) به همراه رسم منحني مربوطهرسم منحني جريان و مطالعه رفتار جريان موادتست روبش دما، زمان، فركانس و كرنشمدل كردن آميزه از طريق فيت سازي نقاط بدست آمده با مدل­ هاي رئولوژيكيشرايط پذيرش نمونه:1- اين دستگاه براي تست و فرآيند مواد سمي آتش­زا و منفجره طراحي نگرديده است.2- نمونه ­ها حداکثر دو هفته پس از آنالیز به صورت پسماند دور ریخته می­شوند.3- پذيرش نمونه به صورت گرانول، پودر، فيلم يا قطعات ريز مي­باشد.4- هزينه­ ي ذكر شده به صورت زمان انجام تست (به ازاي هر ساعت) مي­باشد.5- تنها نمونه ­هاي پليمري (پلاستيكي و لاستيكي) قابل انجام مي­باشند.http://nanotahlil.ir/rheometer/</description><category>Nano Tahlil</category><author>Nano Tahlil</author><pubDate>Mon, 10 May 2021 14:40:21 +0430</pubDate></item><item><title>آنالیز PL</title><link>https://virgool.ir/@nanotahlil/آنالیز-pl-tplzmazmowlr</link><description>آنالیز PL یا طیف سنجی فتولومینسانس از شناخته شده ترین روش های طیف سنجی است. در این آنالیز پرتوی نشر شده از مواد را پس از تحریک آنها با فتون ها با طول موج معین، مشخص می کند. در نتیجه خاصیت فتولومینسانسی مواد به صورت شدت نشر در طول موج های مختلف گزارش خواهد شد. فتولومینسانس ها کاربردهای گوناگونی در حوزه علوم زیستی، فیزیک و مهندسی دارند و خواص نشری آنها هم به صورت مایع و هم به صورت جامد با انالیز PL قابل بررسی است.نتایج آنالیز فوتولومینسانس (PL) به صورت یک فایل اکسل گزارش می‌شود که این فایل اکسل دارای داده‌های نقطه به نقطه مربوط به نمودار شدت بر حسب طول موج نور ساطع شده از نمونه است.PLhttps://nanotahlil.ir/pl/</description><category>Nano Tahlil</category><author>Nano Tahlil</author><pubDate>Wed, 03 Mar 2021 13:33:09 +0330</pubDate></item><item><title>آنالیز FESEM</title><link>https://virgool.ir/@nanotahlil/آنالیز-fesem-cqdttctnau3j</link><description>FESEM (Field Effect Scanning Electron Microscopy)در میکروسکوپ های الکترونی روبشی اثر میدانی (FESEM) از یک میدان الکتریکی برای تولید پرتو الکترونی مبتنی بر پدیده تونل زنی استفاده می شود. اعمال یک میدان قوی بر سطح فلز، سبب کاهش سد پتانسیل الکترون شده و احتمال پدیده تونل زنی از سطح فلز افزایش یافته و شار بزرگی از الکترون ها ایجاد می گردد. مقدار بار گسیل شده در این فرآیند به بزرگی میدان الکتریکی اعمال شده بستگی دارد.معمولاً برای بدست آوردن بهره بیشتر برای تولید جریان الکترونی لازم است،از فلزی با نوک بسیار تیز استفاده کرد و برای جلوگیری از اکسید شدن نوک به خلا بسیار بالا نیاز است. الکترون های ایجاد شده را می توان به کمک میدان های مغناطیسی کانونی کرده و باریکه الکترونی مناسبی تولید کرد. در اثر برخورد باریکه الکترونی با ماده الکترون های ثانویه تولید می شوند. علاوه بر الکترونهای ثانویه الکتروونهای پس پراکنده شده نیز وجود دارند. پرتو الکترونهای ثانویه که از نزدیکی سطح گسیل می شوند، حاوی اطلاعاتی از مشخصات سطحی یا توپوگرافی سطح نمونه بوده، در صورتی که پرتو الکترونهای پس پراکنده حاوی اطلاعاتی در رابطه با ترکیب شیمیایی ماده می باشد .در آماده سازی نمونه مواد غیر رسانا معمولاً سطح نمونه با لایه نازکی از کربن، طلا یا آلیاژ طلا پوشش داده می شود. علت این امر آن است که باید بین نمونه و پایه اتصال الکتریکی برقرار شود و نمونه های ریز نظیر پودرها، باید روی یک فیلم رسانا پخش شده و کاملاً خشک شوند. نمونه ها باید عاری از مایعاتی با فشار بخار بالا مانند آب، محلول های پاک کننده آلی و فیلم های روغنی باقی مانده باشند. شکل زیر طرح شماتیکی از میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی را نشان می دهد.FESEM</description><category>Nano Tahlil</category><author>Nano Tahlil</author><pubDate>Wed, 03 Mar 2021 13:30:09 +0330</pubDate></item></channel></rss>